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      半導體器件高低溫測試設備

      半導體器件高低溫測試設備(Chiller)主要用于半導體制程中對反應腔室溫度的精準控制,主要由熱交換器、循環(huán)泵、壓縮機和控制系統(tǒng)構成的一個自我平衡的循環(huán)裝置,屬于生產過程中的溫控設備。

      更新時間:2024-03-13型號:瀏覽量:1055
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